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鼎陽(yáng)SHN900A系列手持矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 出色的射頻性能

更新時(shí)間:2023-12-20      瀏覽次數(shù):422

鼎陽(yáng)SHN900A系列手持矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 在手持式產(chǎn)品中具有出色的RF性能,并提供單端口電纜和天線測(cè)量以及全雙端口S參數(shù)測(cè)量。在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程中,通常會(huì)測(cè)試組件規(guī)格并驗(yàn)證設(shè)計(jì)模擬,以確

保系統(tǒng)及其組件正常工作。在現(xiàn)場(chǎng),S參數(shù)測(cè)量有助于RF和微波系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證和故障排除。全雙端口SHN900A提供四種標(biāo)準(zhǔn)S參數(shù)(S11,S12,S21,S22)測(cè)量,具有多種顯示模式

和各種格式,如史密斯圓圖、駐波比、極坐標(biāo)等。混合模式反射測(cè)量能夠分析差分電路,SHN900A的兩個(gè)測(cè)試端口允許對(duì)兩種不同的測(cè)試設(shè)置進(jìn)行混合模式測(cè)量。


電纜與天線分析 手持式分析儀SHN900A是天線系統(tǒng)安裝、調(diào)試及日常維護(hù)、電纜故障距離測(cè)量(DTF)、單端口電纜損耗測(cè)量和天線匹配測(cè)量等任務(wù)的理想選擇。使用此模式來(lái)定位

傳輸線路缺陷和調(diào)試基站組件,快速評(píng)估傳輸線和天線系統(tǒng)狀況,提高運(yùn)行基站的維護(hù)效率,加快新基站的安裝調(diào)試進(jìn)程。提供多種測(cè)量格式,回波損耗、電壓駐波比、阻抗、電

損耗、故障點(diǎn)距離等測(cè)量功能,還可用于測(cè)量位置和測(cè)試要求不斷變化的開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)和服務(wù)任務(wù)。

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可調(diào)差分/單端TDR探頭  可調(diào)差分TDR探頭ADP-18/26和可調(diào)單端TDR探頭ASP-18/26助力工程師在缺少連接器的情況下將TDR模塊連接到印刷電路板和其他器件,適用帶寬0~

18/26 GHz。輕便、符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì),纖薄的機(jī)身和加長(zhǎng)的,堅(jiān)硬的齒尖,小直徑和倒角設(shè)計(jì)提供了良好的可視性和舒適性。通過(guò)內(nèi)置的調(diào)節(jié)輪,允許僅用一只手調(diào)節(jié)探針

的間距(0-6.5 毫米可調(diào))。印刷電路板(PCB)制造商可以更好地控制不同批次之間的工藝一致性,控制生產(chǎn)流程并發(fā)現(xiàn)短路、開(kāi)路或其他缺陷。


頻譜分析  頻譜分析模式提供了一個(gè)*的測(cè)量套件,包括頻譜分析,信道功率,鄰道功率比(ACPR)和占用帶寬。Marker → SA功能支持快速查看S測(cè)量參數(shù)特定頻率點(diǎn)的頻譜,

信號(hào)搜索分析更加方便。SA Setup設(shè)置框測(cè)量向?qū)ㄟ^(guò)自動(dòng)化、標(biāo)準(zhǔn)化和優(yōu)化測(cè)試序列來(lái)簡(jiǎn)化測(cè)量。一系列標(biāo)準(zhǔn)化的重復(fù)性測(cè)量可以快速、輕松地進(jìn)行,不會(huì)出錯(cuò),有助于消除人

為錯(cuò)誤,并支持用戶從一開(kāi)始就進(jìn)行正確的測(cè)量。

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校準(zhǔn)類型靈活可選  網(wǎng)絡(luò)分析儀的準(zhǔn)確性與校準(zhǔn)密切相關(guān)。SHN900A支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等完備的校準(zhǔn)方法,以獲得各種應(yīng)用的最佳精度,

兼容多種校準(zhǔn)件,支持用戶自定義校準(zhǔn)套件,方便不同接口類型器件的測(cè)試。支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展功能,支持極限測(cè)試、紋波測(cè)試功能,支持夾具仿真和去嵌入功能,支持線性頻率掃描、對(duì)數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式。



多窗口多跡線多種數(shù)據(jù)顯示  多窗口、多跡線、多種數(shù)據(jù)顯示共同打造的用戶體驗(yàn)。支持多窗口、多通道測(cè)量,快速執(zhí)行復(fù)雜測(cè)試方案。最多支持256條通道,最多可同時(shí)顯示256

個(gè)測(cè)量窗口,每個(gè)窗口可同時(shí)顯示64條測(cè)試跡線,測(cè)量效率更高,測(cè)量結(jié)果更清晰,每個(gè)窗口可顯示不同的測(cè)量格式,具有獨(dú)立的光標(biāo)功能。觀察角度眾多,多種數(shù)據(jù)格式同時(shí)顯

示有助于從不同角度了解DUT。


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